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ムラ/膜厚検査

ムラ/膜厚検査

ムラ/膜厚検査装置は、LCD生産工程で発生するムラ欠陥を検出
する装置です。
当社のフラットパネル分野での豊富な経験を基に、スジ状に発生
するものから点状に発生するものまで、従来はオペレーターによ
る目視検査を行っていた検査工程の自動化を実現しました。

特長

・LCDカラーフィルター製造工程やセルアセンブリ工程、各工程でのムラ検出を実現しました。
・工程に併せ最適な光学系を提案することが可能です。
・スピンコーター起因、インクジェット塗布装置起因、搬送起因など、様々な起因による欠陥検出が可能です。
・オプション機能として全面膜厚管理機能、膜厚測定ヘッドの搭載も可能です。

検査対象

特長

CF工程レジストコートムラ、TFT工程レジストコートムラ、各種工程レジストコートムラ 

仕様

撮像方式 CCDラインセンサーカメラ
照明方法 透過照明 or 反射照明
使用光源 LED or メタルハライド照明
各工程に合わせた光学フィルター
検査ステージ コンベア搬送
※お客様の既存コンベア設置可能ですが、改造を必要とする場合があります
欠陥検出能力 幅1mm以上
※但し、事前にお客様の欠陥品サンプルにて評価させて頂きます
タクト例 検査時間:30sec/sheet以内 (2200×2500mm)

オプション

・全面膜厚管理機能     ・膜厚測定ヘッド搭載

お問い合わせ

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