お知らせ

2026.09.14
9月30日~10月2日に開催される「第17回 高機能フィルム開発・製造展(FILMTECH JAPAN)」に出展いたします
今回の出展では、新発売の高速パターン付きフィルム外観検査装置をメインに、超高速無地フィルム外観検査装置「HAWKEYES ONE」、リアルタイム欠陥分類システム「TAKANO AI」、および電子デバイス・半導体向け検査装置をご紹介いたします。
5G、ビッグデータ、生成AIの普及にともない、電子部材向けフィルム・光学フィルム・エネルギー向けフィルムの市場は今後さらに拡大が見込まれています。一方で、生産ラインの高速化・回路の微細化が進むなか、微細欠陥の見逃し防止と検査工程の省人化は、各社に共通する課題となっています。タカノは、カメラ・画像処理ユニット・検査アルゴリズムまでを自社で開発する強みを活かし、これらの課題に対する解決策をご提案いたします。
ぜひこの機会に弊社ブースへお立ち寄りいただき、製品の詳細やサンプル評価についてご相談ください。

第17回 高機能フィルム開発・製造展(FILMTECH JAPAN)ブースイメージ
「第17回 高機能フィルム開発・製造展(FILMTECH JAPAN)」開催概要
| 開催日程 | 2026年9月30日(水)~10月2日(金) |
| 開催時間 | 10:00~18:00 ※最終日のみ17:00終了 |
| 開催場所 | 幕張メッセ |
| 主催 | RX Japan 合同会社 |
| 出展ブース番号 | 1ホール 4-26 |
| 公式HP | https://www.material-expo.jp/tokyo/ja-jp/visit/film.html |
公式HPからの入場申し込みは有料ですが、下記専用URLからのお申込みで入場料無料となりますので、来場者事前登録サイトよりお申し込みください。
▽展示会招待券お申込み(無料)サイトはこちら
https://www.material-expo.jp/tokyo/ja-jp/register.html?code=1745601528051089-4WV
注目の出展製品
1. 高速パターン付きフィルム外観検査装置

高速パターン付きフィルム外観検査装置
業界最速級(当社調べ)のRoll to Rollパターン印刷工程向け外観検査装置を新たに開発しました。高速高精細検査を得意とする自社製カメラと、新たに開発した画像処理システムでラインレート100klpsの検査速度を実現します。セラミックコンデンサ、電子部材など、5G・生成AIの普及にともない需要が高まる製品の印刷工程でのインライン検査に対応します。
繰り返しパターンを印刷したフィルムに対し、高速かつ高精細な検査で高レベルの傾向管理に貢献します。今回の展示会で詳しい情報を展示しますので、ぜひ会場でご覧ください。
繰り返しパターンを印刷したフィルムに対し、高速かつ高精細な検査で高レベルの傾向管理に貢献します。今回の展示会で詳しい情報を展示しますので、ぜひ会場でご覧ください。
2.超高速無地フィルム外観検査装置 HAWKEYES ONE

超高速無地フィルム外観検査装置 HAWKEYES ONE
自社製高性能カメラと画像処理ユニットの採用により、業界最速級(当社調べ)の検査速度を実現しました。高速な生産ラインでも微細欠陥を検出するための高分解能設定が可能で、複数処理を並列化することで多彩な欠陥検出にも対応します。
▽詳しくはこちらから
https://www.takano-kensa.com/kensa/products/hawkeyesone/
- 高速ライン対応:ライン速度 50m/min で分解能 5μm、100m/min で 10μm、200m/min で 20μ
- 光学フィルム(偏光・拡散・位相差・反射防止)、電子部材向けフィルム(MLCC、CCL/FCCL、DFR 他)、エネルギー向けフィルム(セパレータ、各種金属箔)、基材フィルム(TAC、PET、PI)に対応
- 特徴量分類×AI自動欠陥分類により、高速検査中でもリアルタイムに欠陥分類が可能
▽詳しくはこちらから
https://www.takano-kensa.com/kensa/products/hawkeyesone/
その他の製品
無地フィルム外観検査装置 HAWKEYES ELITE

無地フィルム外観検査装置 HAWKEYES ELITE
業界最高水準の高速高精細検査とカスタマイズ性を融合した外観検査装置です。Roll-to-Rollから枚葉機まで、あらゆるラインに柔軟なシステム構成で対応。独自の画像処理技術により複数アルゴリズムを並列処理し、黒点・ムラ・スジ・キズ・凹凸欠陥などを確実に検出します。
▽詳しくはこちらから
https://www.takano-kensa.com/kensa/products/hawkeyeselite/
▽詳しくはこちらから
https://www.takano-kensa.com/kensa/products/hawkeyeselite/
リアルタイム欠陥分類システム TAKANO AI

リアルタイム欠陥分類システム TAKANO AI
欠陥検出と同時にAIが分類を行うことで、高速検査をしながらの欠陥分類を実現します。従来の特徴量分類とAIを組み合わせて欠陥分類する技術は特許を取得しており、AIがブラックボックス化しやすい部分を特徴量分類で補うことで、品質管理にも有効です。分類条件の設定にかかる時間と手間を削減し、装置の熟練度に関わらず操作が可能。導入済み装置への後付けにも対応します。
▽詳しくはこちらから
https://www.takano-kensa.com/kensa/column/ai-defect-classification-system/
▽詳しくはこちらから
https://www.takano-kensa.com/kensa/column/ai-defect-classification-system/
半導体向け検査装置

半導体向け検査装置
- バンプ高さ検査装置 ALTAX:2D/3D同時検査に対応した全面高さ検査装置。ガラス、ウェーハ、PKG基板など幅広く対応
- ウェーハ外観検査装置 Viシリーズ:配線パターンやクラック、異物混入などを高精度に検査
- ウェーハ表面検査装置 WM+シリーズ:ナノレベルのパーティクル(異物)検出に対応
▽詳しくはこちらから
https://www.takano-kensa.com/kensa/products/