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お知らせ情報

2021.07.27
業界最速 AI搭載 フィルム検査システムを8月1日より販売開始
2021.07.21
タカノの検査技術が燃料電池車MIRAIへ採用
2021.06.01
ホームページ更新のお知らせ
2020.12.10
インターンシッププログラムのご案内
2020.11.17
HALCONディープラーニングセミナー
2020.11.09
検査装置・UVレーザ装置 Web展示会開催【終了いたしました】
2019.11.08
「SEMICON Japan 2019」出展のお知らせ
2019.11.08
FPD(フラットパネルディスプレイ)検査装置・レーザ加工機を「第29回 液晶・有機EL・センサ技術展(ファインテック ジャパン)に出展
2018.12.11
「インターネプコンジャパン」出展のお知らせ
2018.11.19
「SEMICON Japan 2018」出展のお知らせ
2018.08.08
埼玉事業所臨時休業のお知らせ
2018.08.01
ウェーハ表面検査装置発売開始のお知らせ
2018.06.18
半導体ウェーハ表面検査装置・プロキシミティ露光装置の事業譲受に関するお知らせ
2017.12.28
インターネプコン出展のお知らせ
2017.11.01
ウェーハ外観検査装置発売開始お知らせ
2017.10.18
ホームページのアクセス障害に関するお詫び
2017.08.04
SEMICON Taiwan 2017出展のお知らせ
2017.08.04
Information about SEMICON Taiwan 2017
2017.03.24
第8回高機能フィルム展出展のお知らせ
2017.03.08
4/5-7 第10回レーザー加工技術展に出展します(終了しました)
2016.12.13
第1回 スマート工場 EXPO(終了しました)
2016.08.15
表面欠陥検査装置 ZEBBRA が日経産業新聞に掲載されました。
2016.07.27
立体物の表面欠陥検査を可能にする技術 ZEBBRA
2016.07.27
表面欠陥検査装置 ZEBBRA が日本経済新聞に掲載されました。
2016.05.30
第20回 機械要素技術展出展のご案内
2016.03.03
第7回 高機能フィルム展 出展のお知らせ