技術紹介
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高速・高精細3D検査（ALTAX）
- お客様の課題
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- 全数検査を行うには、検査時間が長くかかってしまうため装置を複数台購入しなければならない。
- 検査時間と測定精度はトレードオフ
その課題、
「高速・高精細3D検査（ALTAX）」が解決します
- 光切断法×画像処理×新開発の超高速CMOSセンサ
- 全数検査を高精度に検査したいという市場要求に応えるため、高速性に優れた光切断法を元に、弊社独自の画像処理と新開発の超高速CMOSセンサを掛け合わせることで、高精度かつ高速に検査可能なインライン3D測定システムを開発しました。
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リアルタイムAI欠陥分類システム
- お客様の課題
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- 欠陥分類の精度を上げたい
- 欠陥分類のために複雑なパラメータを設定するのは嫌
- 情報をリアルタイムに生産現場にフィードバックしたい
- AIを導入したいが品質管理に不安がある
その課題、
「リアルタイムAI欠陥分類システム」が
解決します
- 欠陥分類システム
- TAKANO AI
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表面欠陥検査装置
ZEBBRA- お客様の課題
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- 目視検査を行っているが、手間も人件費もかかる。
- 目視のように全数検査を行いたい。
その課題、
「ZEBBRA」が解決します
スリット光を活用したユニークな光学系と独自開発の検出アルゴリズムにより、従来トレードオフの関係にあった「検出力」「汎用性」を1つの光学ユニットで実現。まるで人が目視しているような感度で検査が可能です。