半導体関連(SEMI) 前工程検査装置

前工程検査装置とは
前工程プロセスの品質、歩留り管理などに寄与する高品質、ハイコストパフォーマンスの装置をご提供します。
パータンなしウェーハ表面検査装置

WMシリ―ズ
パータンなしウェーハ表面のパーティクルを高感度に検出することが可能で、工程管理用に様々な場面で使用されています。
全面膜ムラ検査装置

Thinspector
1スキャンでウェーハ全面のムラ又は膜厚の検査を実施することができます。

前工程プロセスの品質、歩留り管理などに寄与する高品質、ハイコストパフォーマンスの装置をご提供します。

パータンなしウェーハ表面のパーティクルを高感度に検出することが可能で、工程管理用に様々な場面で使用されています。

1スキャンでウェーハ全面のムラ又は膜厚の検査を実施することができます。