フィルム(Film)
無地フィルム
外観検査装置

無地フィルム外観検査装置
HAWKEYES ELITE
高速高精細検査とカスタマイズ性を融合し、様々な要求に柔軟に対応しながら生産性に寄与します。
業界最高水準の高速高精細を実現するために開発された自社製カメラを使用しています。
検査対象
- 光学フィルム:偏光フィルム、拡散フィルム、位相差フィルム、反射防止フィルム など
- 電子部材向けフィルム:MLCC、CCL/FCCL、DFR、絶縁フィルム、接着フィルム、離型フィルム など
- エネルギー向けフィルム:セパレータ、各種金属箔 など
- 基材フィルム:TAC、PET、PI など
特長
-

Roll to Rollから枚葉機まで
あらゆるラインに対応する柔軟なシステム構成自社開発のカメラと画像処理ユニットを基軸としてトータルにチューニングされたシステムが貴社の生産ラインに貢献します。
ライン速度 分解能 100m/min 20μm 200m/min 40μm
Roll-to-Roll
オフライン -

タカノオリジナルの
画像処理技術で複数欠陥を検出独自の画像処理技術を駆使、複数アルゴリズムを並列処理、確実に欠陥を検出します。
濃淡画像 処理画像 検出画像 黒点 


ムラ 


スジ 


キズ 


凹凸欠陥 


打痕 


横スジ 
ー 
縦スジ 
ー 
-

特徴量分類×AI自動欠陥分類
高速検査の中でもリアルタイムに欠陥分類が可能。自社製カメラで得られる鮮明な画像を活かし、複雑な設定なしで高精度な欠陥分類を実現します。
仕様表
ハードウェア
| 有効画素数 | 8,000pix、16,000pix |
|---|---|
| 制御・統計用PC | FA仕様 |
ソフトウェア
| 欠陥検査 | 検査判定処理、ノイズリダクション処理、空間フィルタ、欠陥Map表示 |
|---|---|
| データ閲覧 | 欠陥リスト(Map/座標データ)、欠陥画表示、トレンドグラフ、統計処理 等 |
※画面表示や機能追加などのカスタマイズ対応可能
検査対象欠陥例
- 穴欠陥:コート抜け、ピンホール
- スジ欠陥:塗布スジ、しわ、ロールスジ 等
- 凹凸系欠陥:異物、キズ、気泡 他
- ムラ欠陥:塗布ムラ、ハジキ 等

