超高速無地フィルム
外観検査装置

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超高速無地フィルム外観検査装置 
HAWKEYES ONE

業界最速級の検査システムで超高速生産ラインにも対応！
微細欠陥をリアルタイムで検出・分類し、流出リスクを大幅に低減。
品質管理を強化しながら、生産効率のアップも可能に！

検査対象

  • 光学フィルム：偏光フィルム、拡散フィルム、位相差フィルム、反射防止フィルム　など
  • 電子部材向けフィルム：MLCC、CCL/FCCL、DFR、絶縁フィルム、接着フィルム、離型フィルム　など
  • エネルギー向けフィルム：セパレータ、各種金属箔　など
  • 基材フィルム：TAC、PET、PI　など

欠陥検出例

  • 黒点
  • ムラ
  • スジ
  • キズ
  • 凹凸欠陥
  • 打痕
  • 横スジ
  • 縦スジ

特長

  • 01

    高速生産ラインに対応

    自社製カメラ採用により高速な生産ラインでの微細欠陥を検出するための高分解能の設定を可能にしました。

    ライン速度 分解能
    50m/min 5μm
    100m/min 10μm
    200m/min 20μm
    • タカノカメラ
    • 市販カメラ

    ※LineSpeedに対し設定可能な分解能流れ方向を記載

  • 02

    複数処理で多彩な検出が可能

    新たに開発された画像処理ユニットによりさまざまな欠陥に対応しました。

  • 03

    ユーザーフレンドリーな
    アプリケーション

    閲覧性、操作性を重視し、運用効率をUPします。

    メイン画面
    • レシピ画面
    • システム設定画面

  • 04

    特徴量分類×AI自動欠陥分類

    高速検査の中でもリアルタイムに欠陥分類が可能。自社製カメラで得られる鮮明な画像を活かし、複雑な設定なしで高精度な欠陥分類を実現します。

    AI欠陥分類の詳細はこちら

仕様表

ハードウェア

有効画素数 8,000pix、16,000pix
PC FA仕様

ソフトウェア

欠陥検査 検査判定処理、ノイズリダクション処理、空間フィルタ、欠陥Map表示
データ閲覧 欠陥リスト(Map/座標データ)、欠陥画像表示、トレンドグラフ、統計処理 等

システム概要

多種多様な光学系に対応！
サンプル評価にてシステムを検討します。

検査対象欠陥例

  • ホール系：コート抜け、ピンホール
  • スジ欠陥：塗布スジ、しわ、ロールスジ 等
  • 凹凸系欠陥：異物、キズ、気泡 他
  • ムラ欠陥：塗布ムラ、ハジキ 等