ムラ検査/
膜厚測定装置

ムラ検査/膜厚測定装置とは

ムラ/膜厚検査装置は、LCD生産工程で発生するムラ欠陥を検出する装置です。
弊社のフラットパネル分野での豊富な経験を基に、スジ状に発生するものから点状に発生するものまで、従来はオペレーターによる目視検査を行っていた検査工程の自動化を実現しました。

検査対象

  • CF工程レジストコートムラ
  • TFT工程レジストコートムラ
  • 各種工程レジストコートムラ など

欠陥検出例

  • OC 膜のムラ
  • PI 膜のムラ

など

特長

  • 01

    各工程でムラ検出を実現

  • 02

    様々な起因による欠陥検出が可能

仕様表

撮像方式 ラインセンサーカメラ
照明方法 透過照明 or 反射照明
使用光源 LED/各工程に合わせた光学フィルター
検査ステージ コンベア搬送 ※お客様の既存コンベア設置可能ですが、改造を必要とする場合がございます。
欠陥検出能力 幅1mm以上
タクト例 30sec/sheet以内 (2200×2500mm)

オプション

  • 膜厚測定ヘッド搭載

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