Technical Information
スリット光を活用したユニークな光学系と独自の検出アルゴリズムにより、従来トレードオフの関係にあった「検出力」「汎用性」「経済性」を 1つの光学ユニットで実現。加えて被検査物の形状に依存しない検査が可能です。
検出欠陥モード | 検査範囲 |
ノイズ量 |
|||
凹 凸 | スリキズ | 異 物 | |||
ZEBBRA | ○ | ◎ | ◎ | 広い | 調整可能 |
面照明 | × | △ | ○ | 広い | 少ない |
リング照明 | △ | ◎ | ◎ | 狭い | 多い |
検査画像1 | 検査画像2 | |
ZEBBRA |
||
面照明 |
||
リング照明 |
まずは、下記フォームからお問い合わせください。
お急ぎの方、もしくは、担当者に直接ご相談されたい方は、こちらの番号にお電話ください。
タカノ株式会社 画像計測部門
TEL:03-3253-8261