拠点紹介

Base Introduction

事業所

横浜技術開発センター画像処理検査・計測(半導体検査)装置の技術拠点

横浜技術開発センター:画像処理検査・計測装置の開発・製造


アクセス
お車でお越しの方
・東名高速道路 横浜青葉IC出口より県道12号線を東神奈川方面へ 5分。
電車でお越しの方
・横浜市営地下鉄グリーンライン 

川和町駅下車より県道12号線を東神奈川方面へ 徒歩10分。
・JR横浜線  中山駅下車より川和町郵便局方面へ タクシー10分。
バス 市ヶ尾行きor桐蔭学園行き 川和町郵便局前下車 徒歩2分。
・東急田園都市線  市が尾駅下車より川和町郵便局方面へ タクシー10分。
バス 中山駅北口行きor横浜駅西口行き 川和団地下下車 徒歩3分。
概要
全社技術・研究開発拠点、画像処理検査・計測(半導体検査)装置の技術拠点
所在地
〒224-0057 神奈川県横浜市都筑区川和町639
電話
045-931-4424(代)
FAX
045-507-4978