弊社画像計測部門は、2022年6月15日(水)～17日(金)に東京ビッグサイトで開催される「JPCA Show 第51回国際電子回路産業展」に出展いたします。

半導体の製造に欠かせない外観検査装置を複数ラインナップしています。

今回はパッケージ基板向けに特化した検査機のデモ機展示を中心に出展いたします。

ぜひ、タカノブースへお立ち寄りください。

■注目の出展製品

1. パッケージ向け3D外観検査機 ALTAX デモ機出展(業界最速※)

検査対象：バンプ高さ、径、コプラナリティ

検査種類：2D、3D(同時検査可能)

装置特長：高速検査、高精度検査

独自技術：オリジナルカメラ、データ処理

※2022/5/27時点 当社調べ

URL： https://www.takano-kensa.com/kensa/products/semiconductor/altax/

2. パッケージ向け検査装置(2D検査、ミッシングバンプ検査機)　パネル展示

検査対象：バンプ有無、バンプ径

装置特長：高速検査、高精度検査

独自技術：オリジナルカメラ、データ処理

3. 小口径ウェーハ向け検査装置　VCシリーズ

(深さ検査、2D検査、3D検査、透明膜測定)　パネル展示

電子部品向けウェーハ検査装置(VC series)

検査対象： TSV・トレンチ深さ／パターン／バンプ高さ、径、コプラナリティ 等

装置特長： 低価格

URL　　 ： https://www.takano-kensa.com/kensa/products/semiconductor/electronic/

4. ベアウェーハ表面検査装置　WMシリーズ パネル展示

ウェーハ表面検査装置(WM series)

検査対象： パーティクル

装置特長： 高速検査、低価格

独自技術： オリジナル光学系

URL　　 ： https://www.takano-kensa.com/kensa/products/semiconductor/wm/

■「JPCA Show 第51回国際電子回路産業展」開催概要

開催日程：2022年6月15日(水)～17日(金)

開催時間：10:00～17:00

開催場所：東京ビッグサイト

　　　　　東展示棟4～6・会議棟

　　　　　タカノ株式会社 出展ブース番号：5i-12(東展示棟4ホール)

公式HP： https://www.jpcashow.com/show2022/index.html

事前登録で入場料無料となりますので、来場者事前登録サイトよりお申し込みください。

▽来場者事前登録サイトはこちら

https://jpca2022.jcdbizmatch.jp/jp/Registration