Question 1

タカノ株式会社 画像計測部門のコラムではどのような内容が掲載されていますか？

Accepted Answer

タカノ株式会社 画像計測部門のコラムでは、半導体、フィルム、フラットパネルなどの各種検査装置に関する最新技術、製品導入事例、そして製造現場の品質管理と生産性向上に役立つ専門情報を幅広くご紹介しています。

Question 2

表面欠陥検査や3D検査に関する情報はコラムで得られますか？

Accepted Answer

はい、表面欠陥検査装置「ZEBBRA」や、高速・高精細3D検査装置「ALTAX」といった個別の検査装置に関する技術解説や活用事例について、詳細なコラム記事を掲載しております。各装置の機能やメリットがご確認いただけます。

Question 3

AIを活用した欠陥分類システムについてコラムで紹介されていますか？

Accepted Answer

当社のコラムでは、リアルタイム欠陥分類システム「TAKANO AI」に関する記事もご用意しています。AI技術を用いた画像処理により、欠陥の自動分類や分析を効率化し、検査精度の向上に貢献するソリューションについて解説しております。