2024年12月11日(水)~13日(金)に東京ビッグサイトで開催される「SEMICON Japan 2024」に出展いたします。
デバイスメーカー、ファウンドリー、装置メーカー、材料メーカーなどに向けた半導体向け検査装置、外観検査装置を出展いたします。タカノでは、光学からレーザー検査まで幅広い範囲をカバーしております。
今回、検査装置に加え、PSL粒子塗布ウェーハの販売開始もSEMICON Japan 2024にて初めてご紹介いたします。
本サービスは、製造プロセスにおける品質管理に大きく貢献することが期待されています。ぜひ、タカノブースへお立ち寄りください。
SEMICON Japan 2024 展示ブースイメージ
SEMICON Japan 2024 開催概要
出展内容のご案内
フィルム外観検査装置Hawkeyesシリーズ
無地高速微細画像検査装置システム Hawkeyes one
Hawkeyesシリーズは高機能フィルム市場(光学、電子部材、電池部材)に対して、自社製のカメラと画像処理ユニット、検査アルゴリズムを採用することで高速かつ高精度な検査を実現します。
自社製高性能カメラと新開発の画像処理ユニットの採用により、業界最速クラス(当社調べ)の検査速度を実現しました。高速な生産ラインでの微細欠陥を検出するための高分解能の設定が可能です。また、複数処理を並列化し、多彩な欠陥検出も行えます。
▼無地高速微細画像検査装置システム Hawkeyes one製品ページ
https://www.takano-kensa.com/kensa/products/film/one/
PSL粒子塗布ウェーハ販売開始(新サービス)
半導体装置の管理に欠かせないPSL(ポリスチレンラテックス)粒子を塗布したウェーハの販売を開始いたします。PSL粒子塗布ウェーハは、ウェーハ表面パーティクル検査装置の校正や評価に使用され、検査装置の検出感度や精度を確保するための重要な役割を果たします。
ご要望に応じてさまざまな粒径のPSL粒子をウェーハに塗布することが可能です。
これにより、製造プロセスにおける異物管理や装置の性能維持、歩留まりの向上に貢献いたしますので、ぜひ、『PSL粒子塗布ウェーハ』を通じて、御社の半導体製造プロセスの品質向上にお役立てください。
詳細については、SEMICON Japanのタカノブースにて発表いたしますので、最適なPSL塗布サービスに関するご相談もぜひお声掛けください。