2022.08.24 展示会情報
ノンパターンウェーハにて高感度でのパーティクルの検出が可能です。 光源には半導体レーザーを使用しており、ランニングコストの軽減になります。 ウェーハ検査、工程管理、研究開発等にてご使用いただけます。 ▼製品詳細 https://www.takano-kensa.com/kensa/products/semiconductor/wm/ |
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半導体ウェーハ/パッケージ基板に形成されたバンプの高さ、径およびコプラナリティを新型検査ユニット“Mervel”にて高速かつ高精度に測定します。 独自に改良を重ねた光学系とデータ処理方法(Time Delay Scanning)の採用により、これまでの光切断方式にない高精度測定が可能となりました。 ▼製品詳細 https://www.takano-kensa.com/kensa/products/semiconductor/altax/ |
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開催日程: | 2022年9月14日(水)~16日(金) |
開催時間: | 10:00~17:00(最終日のみ 16:00まで)(現地時間) |
開催場所: |
台北南港展覧館1館 タカノ株式会社 出展ブース番号:M1134(4階) |
公式HP: |
https://www.semicontaiwan.org
事前登録で入場料無料となりますので、来場者事前登録サイトよりお申し込みください。 ▽来場者事前登録サイトはこちら https://registration.semicontaiwan.org/visitor/index |