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お知らせ情報

12月14日から16日に開催される 「SEMICON Japan 2022」に出展します

2022.11.15 展示会情報

弊社は2022年12月14日(水)~16日(金)に東京ビッグサイトで開催される「SEMICON Japan 2022」に出展いたします。
画像計測システム展示会出展のイメージ
展示ブースイメージ
今回は、半導体向け検査装置のほか、フィルム外観検査装置などを出展いたします。
ぜひ、タカノブースへお立ち寄りください。
出展製品
1.ウェーハ表面検査装置(WMシリーズ)
ウェーハ表面検査装置:WMシリーズ
半導体デバイスの製造、材料開発、装置管理に欠かせない検査システムです。
ナノレベルのパーティクル(異物)を検出することが可能で、歩留まり管理などの品質保証のため、1985年に発売、現在も国内外にて数多く使用していただいております

URL:https://www.takano-kensa.com/kensa/products/semiconductor/wm/
2.ウェーハ外観検査装置(Viシリーズ)
ウェーハ外観検査装置:Viシリーズ
ウェーハの配線パターンやクラック、異物混入などを高精度に検査します。
ウェーハサイズ・デバイス・欠陥等の種類・検査速度に応じて、6種類のラインナップからご提案できます。
画像:Viシリーズ対応 不具合例
Viシリーズ対応 不具合例


URL:https://www.takano-kensa.com/kensa/products/semiconductor/pattern/
「SEMICON Japan 2022」概要
開催日程: 2022年12月14日(水)~16日(金)
開催時間: 10:00~17:00
開催場所: 東京ビッグサイト(東展示棟)
出展ブース番号: 2840(東1・2・3ホール)
公式HP: https://www.semiconjapan.org/jp


ご来場の際には、事前登録(無料)が必要です。来場者事前登録サイトよりお申し込みください
▽来場者事前登録サイトはこちら
https://www.semiconjapan.org/jp/about/pricing-and-register