Product Information
 従来の市販のスポット膜厚測定では、ウェーハ内の数か所の膜厚を測定することで膜厚管理していましたが、タカノのThinspectorでは1スキャンでウェーハ全面の検査を実施することができます。
従来の市販のスポット膜厚測定では、ウェーハ内の数か所の膜厚を測定することで膜厚管理していましたが、タカノのThinspectorでは1スキャンでウェーハ全面の検査を実施することができます。
| 製品名 | Thinspector | 
|---|---|
| 製品仕様 | 測定原理:光干渉法 分解能:350um 測定対象:ウェーハ上に形成された膜厚ムラ 対応可能サイズ:~12inch | 
| 発売日 | 2023年2月1日(水) | 
| 想定する業界 | 国内外の半導体メーカー向け SiC、GaN等の化合物半導体にも対応できます。 | 
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