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お知らせ情報

9月10日から12日に開催される「SEMICON Taiwan 2025」に出展いたします

2025.08.27 展示会情報

2025年9月10日(水)~12日(金)に台湾 台北南港展覧館1館・2館(Tainex)で開催される「SEMICON Taiwan 2025」に出展いたします。
今回は、デバイスメーカー、ファウンドリー、装置メーカー、材料メーカーなどを対象に、半導体向け検査装置および新技術を出展いたします。タカノでは、光学からレーザー検査に至るまで、幅広い検査範囲をカバーしております。ぜひ、弊社ブースへお立ち寄りください。
SEMICON Taiwan 2025
SEMICON Taiwan 2025 ブースイメージ
SEMICON Taiwan 2025 開催概要
開催日程: 2025年9月10日(水)~12日(金)
開催時間: 10:00~17:00(最終日のみ 16:00まで) (現地時間)
開催場所: 台湾 台北南港展覧館1館・2館(Tainex)
ブース番号: N1383
公式HP: https://www.semicontaiwan.org/
▽来場者事前登録サイトはこちら
https://registration.semicontaiwan.org/visitor/index
出展製品
ウェーハ表面検査装置 WMシリーズ
  • ウェーハ表面検査装置:WM-10+
    WM シリーズ:WM-10R+
  • ウェーハ表面検査装置:WM-7SR+
    WM シリーズ:WM-7R+


半導体デバイスの製造、材料開発、装置管理に欠かせない検査システムです。
ナノレベルのパーティクル(異物)を検出することが可能で、国内外にて数多く使用していただいております。光源には半導体レーザーを使用しており、ランニングコストの軽減になります。
WM-7R+、WM-10R+は、国際的な安全認証を取得しております。外観デザインを刷新した最新モデルです。従来機と同等の性能を維持しながら、新しい意匠によりブランドの一貫性と訴求力を強化しました。

▼詳しくはこちらから
https://www.takano-kensa.com/kensa/products/semiconductor/wm/
TGV向け検査装置「ALTAX」

ALTAX
TGV向け検査装置「ALTAX」


TGV(Through Glass Via)製造工程において、Via径・位置、Cavity形状、Cu充填後の全数Via深さを高速に検査可能な新システムです。510mm×515mm基板を約120秒で測定(分解能6μm時)でき、研究開発から量産ラインまで幅広く対応します

▼詳しくはこちらから
https://www.takano-kensa.com/kensa/products/semiconductor/altax/
微小荷重変位計測機「TST-001-P」「開発品」

極めて小さな荷重と変位を高精度に計測できる新開発装置です。応力・変位・抵抗の同時測定に対応し、プローブやカンチレバー、圧電アクチュエータ、膜材など多様なサンプルの特性評価が可能です。測定結果はリアルタイムにグラフ化・動画保存ができ、研究開発から品質管理まで幅広くご活用いただけます。応力は0.0001[N]単位、変位は0.1μm単位の分解能を実現し、半導体製造の高精度評価に貢献します

▼本製品に関するお問い合わせはこちらから
https://www.takano-net.co.jp/newtechnology/contact/
ウェーハ外観検査装置(Viシリーズ)

ウェーハの配線パターンやクラック、異物混入などを高精度に検査します。ウェーハサイズ・デバイス・欠陥等の種類・検査速度に応じて、5種類のラインナップからご提案できます。
  • ウェーハ外観検査装置(Viシリーズ):Vi-4207
    Vi-4207
  • ウェーハ外観検査装置(Viシリーズ):Vi-4307
    Vi-4307
  • ウェーハ外観検査装置(Viシリーズ):Vi-5301
    Vi-5301
欠陥検出例


▼詳しくはこちらから
https://www.takano-kensa.com/kensa/products/semiconductor/pattern/
全面膜ムラ検査装置(Thinspector)

Thinspector
全面膜ムラ検査装置(Thinspector)


1スキャンでウェーハ全面の膜厚測定、ムラ検査を高速に行い、抜けのない膜厚管理を行うことができます。

▼詳しくはこちらから
https://www.takano-kensa.com/kensa/products/semiconductor/thinspector/
フィルム外観検査装置Hawkeyesシリーズ

Hawkeyes one
無地高速微細画像検査装置システム Hawkeyes one


Hawkeyesシリーズは高機能フィルム市場(光学、電子部材、電池部材)に対して、自社製のカメラと画像処理ユニット、検査アルゴリズムを採用することで高速かつ高精度な検査を実現します。

自社製高性能カメラと新開発の画像処理ユニットの採用により、業界最速クラス(当社調べ)の検査速度を実現しました。高速な生産ラインでの微細欠陥を検出するための高分解能の設定が可能です。また、複数処理を並列化し、多彩な欠陥検出も行えます。

▼無地高速微細画像検査装置システム Hawkeyes one製品ページ
https://www.takano-kensa.com/kensa/products/film/one/
PSL粒子塗布ウェーハ販売開始(新サービス)

半導体装置の管理に欠かせないPSL(ポリスチレンラテックス)粒子を塗布したウェーハになります。PSL粒子塗布ウェーハは、ウェーハ表面パーティクル検査装置の校正や評価に使用され、検査装置の検出感度や精度を確保するための重要な役割を果たします。
ご要望に応じてさまざまな粒径のPSL粒子をウェーハに塗布することが可能です。
これにより、製造プロセスにおける異物管理や装置の性能維持、歩留まりの向上に貢献いたしますので、ぜひ、『PSL粒子塗布ウェーハ』を通じて、御社の半導体製造プロセスの品質向上にお役立てください。
詳細については、タカノブースにてご説明させていただきますので、最適なPSL塗布サービスに関するご相談もぜひお声掛けください。