第1回 スマート工場EXPOに出展いたします。

今回はウェーハ・パッケージ向け検査計測エリア、レーザーエリア、ZEBBRAエリア、3つのエリアで展示いたします。ぜひお立ち寄りいただきますようお願い申し上げます。

会 期

2017年01月18日(水) ～ 2017年01月20日(金)

10:00-18:00（最終日のみ17:00まで）

会 場

東京ビッグサイト 東3ホール

小間番号：E25-33

展示内容

ウェーハ・パッケージ向け　検査/計測エリア

• マイクロバンプ高さ検査
• トレンチ/TSV計測
• 配線パターン検査
• ワイドレンジAFM

レーザーエリア

• レーザーマーカー「CHARIS」
• レーザー加工機「GAIA」

ZEBBRAエリア

• 表面欠陥検査装置ZEBBRA

主 催

リード エグジビション ジャパン 株式会社

※ クリックするとPDF形式で開きます。

イベント公式サイトはこちら： http://www.sma-fac.jp/

招待状が必要であれば送付させて頂きますのでお知らせください。

ご来場を心よりお待ちしております。

お問い合わせ/アポイントのご連絡は下記担当者までご連絡ください。

画像計測部門　営業開発部

早川　修平

TEL:03-3253-8261

メールアドレス:shuhei.hayakawa@takano-net.co.jp